今日の1問
応用情報技術者試験
ハードウェア平成27年度 春期

半導体製造プロセスが微細化することによって問題となってきたリーク電流の低減手段として,適切なものはどれか。

ア〜エから選んでみましょう👇

出典:IPA 応用情報技術者試験 平成27年度 春期 午前 問23

応用情報技術者試験の対策をもっと
本物の過去問1万問超を無料で演習